探针卡（Probecard）或许很多人没有听过，但看过金誉半导体关于CP（CircuitProbing、ChipProbing）测试，也就是晶圆测试方面文章的人应该不会陌生，其中就有提到过探针卡。晶圆测试过程非常重要，而它之所以可较早筛选不良产品，避免不良die流到封装过程中，探针卡功不可没。

探针卡是由探针（probepin）、电子元件（

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